Equipos de Prueba y Medida

Osciloscopio Teledyne LeCroy WaveMaster 8000HD

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Teledyne LeCroy ha anunciado el lanzamiento de su nueva plataforma de osciloscopio de alto ancho de banda y alta definición (HDO®) WaveMaster® 8000HD con modelos de 20 a 65 GHz de ancho de banda, 12 bits de resolución, hasta 320 GS/s de velocidad de muestreo y una memoria de adquisición de 8 gigapuntos (Gpts).

El nuevo WaveMaster 8000HD conserva las funciones de validación y depuración de su predecesor, al tiempo que añade nuevas opciones de software de análisis de datos serie SDA Expert para probar las tecnologías de datos serie de nueva generación.
La velocidad de las tecnologías de datos serie está aumentando: PCI Express® (PCIe®) 6.0 ofrece una velocidad de datos de 64 gigatransferencias por segundo (GT/s), mientras que USB4® Specification v2.0 ofrece 80 gigabits por segundo (Gbps). Los dos nuevos estándares utilizan señales multinivel de modulación de amplitud de pulsos (PAM). El aumento de la velocidad y el uso de señalización multinivel requieren un mayor ancho de banda y resolución del osciloscopio. La complejidad de los enlaces de datos serie también está aumentando debido al uso de operaciones de ecualización dinámica de enlaces, negociación, formación y handshaking para establecer y mantener las velocidades de transferencia más altas. Algunas de estas operaciones se realizan a través de enlaces de datos serie paralelos de baja velocidad utilizando una combinación de señales de capa física y comunicaciones de protocolo.

Los nuevos osciloscopios de gran ancho de banda de la serie WaveMaster 8000HD ofrecen un rendimiento en la caracterización de señales para las tecnologías de datos serie de próxima generación, como PCIe 6.0 y USB4 Specification v2.0. WaveMaster 8000HD duplica con creces el ancho de banda y la frecuencia de muestreo de su predecesor: una resolución de 12 bits a pleno ancho de banda y frecuencia de muestreo y hasta 8 Gpts de memoria de adquisición. Los 12 bits de resolución proporcionan una caracterización de señal de las señales multinivel PAM3 y PAM4 utilizadas en la especificación USB4 v2.0 y PCIe 6.0, respectivamente, y los 8 Gpts mejoran la depuración de problemas de negociación de enlaces.

WaveMaster 8000HD también ofrece varias capacidades para satisfacer los requisitos de depuración de enlaces complejos y sistemas embebidos de alta velocidad. Los usuarios de WaveMaster 8000HD pueden:
- Fusionar a la perfección las funciones del osciloscopio WaveMaster 8000HD con un analizador de protocolo PCIe o USB de Teledyne LeCroy utilizando el análisis CrossSync™ PHY cross-layer para proporcionar una visión única de los comportamientos de enlace de alta velocidad.
- Capturar banda lateral de datos serie de baja velocidad, enlaces de entrenamiento y negociación, carriles de alimentación y otras señales asociadas utilizando casi todas las sondas acopladas de 50 Ω o 1 MΩ (incluidas sondas pasivas y sondas de corriente) que ofrece Teledyne LeCroy.
- Utilizar cualquiera de los más de 20 disparadores y decodificadores serie de baja velocidad, lo que facilita la depuración a baja y alta velocidad en el mismo osciloscopio.
- Capturar señales digitales con entradas lógicas digitales (señal mixta) de hasta 500 MHz de velocidad de reloj integradas en el osciloscopio WaveMaster 8000HD, con opciones para añadir el analizador digital de alta velocidad HDA125 para adquirir digitalmente señales de hasta 6 Gb/s - especialmente útil para la adquisición, descodificación y separación de lectura/escritura de señales de memoria DDR como parte de la depuración DDR y las pruebas de conformidad.
- Observar y depurar errores de enlace durante periodos largos utilizando una memoria de adquisición de hasta 8 Gpts.

Las nuevas opciones de software SDA Expert proporcionan una experiencia simplificada con análisis de tecnología a medida para PCIe, USB, DisplayPort y más, además de contener potentes herramientas PAM y de diagrama de ojo sin retorno a cero (NRZ), jitter y análisis de enlace. Los paquetes de pruebas QualiPHY® proporcionan una sencilla automatización de pruebas de conformidad para interfaces de datos serie complejas de alta velocidad. Todas estas capacidades de prueba de datos serie son útiles para la próxima generación PCIe.

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