Cámara infrarroja Optris PI 640i
Optris presenta una nueva óptica microscópica para la cámara infrarroja PI 640i con el fin de medir temperaturas con precisión y con alta resolución geométrica, incluso con estructuras a nivel de chip.b. Con la nueva óptica del microscopio MO2X con aumento 2x, la cámara infrarroja PI 640i de Optris puede capturar imágenes infrarrojas incluso de estructuras complejas.
Para una medición exacta de la temperatura se necesitan 4x4 píxeles (MFOV), de modo que ahora se pueden medir objetos con un tamaño de sólo 34 µm. Esto significa que incluso las estructuras más pequeñas pueden analizarse a nivel de chip. La resolución térmica de 80 mK es un valor muy bueno para esta óptica. El enfoque de la nueva óptica permite trabajar a una distancia de 15 mm del objeto a medir.
Como la óptica de las cámaras infrarrojas de la serie PI se puede cambiar fácilmente, el sistema se puede utilizar de forma flexible para diversas tareas de medición. Junto con el soporte para microscopio de alta calidad con ajuste fino suministrado, los conjuntos microelectrónicos se pueden inspeccionar fácilmente. La resolución máxima de la cámara infrarroja es de 640 x 480 píxeles a una velocidad de fotogramas de 32 Hz y aunque sea de 125 Hz, la cámara PI 640i todavía puede impresionar con 640 x 120 píxeles.
El software de análisis sin licencia PIX Connect está incluido. Alternativamente, también está disponible un SDK completo.
Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo.
Articulos Electrónica Relacionados
- Fuente de señal vectorial Sigl... Siglent, representada por Ayscom dataTec, presenta esta fuente de señal vectorial para aplicaciones más avanzadas como pruebas de recepción, donde se requieren ...
- Cámara de imágenes acústicas F... RS Components (RS) ha incorporado a su oferta la nueva cámara de imágenes acústicas Si124 de FLIR. Las principales áreas de aplicación de las imágenes por ultra...
- Cámara para detección de efect... Adler Instrumentos presenta la nueva cámara UVolle-Vi de OFIL que sustituye a la UVolle-SV e incorpora importantes mejoras como la integración de la función de ...
- Contadores estáticos monofásic... La nueva gama de contadores modulares CEM de CIRCUTOR permite obtener toda la información clave sobre los diferentes ámbitos de consumo de una instalación.Dicha...
- Catálogo de equipos de test y ... Chauvin Arnoux presenta una selección de sus productos más destacados, además de sus más recientes lanzamintos. En este catál...
- Analizadores de espectro Rigol... Para la próxima edición embedded world 2018, Hall 4, Stand 528 en Nuremberg, Rigol Technologies presentará una serie de innovaciones introd...
- Medidores de Campo Narda NIM-5... Narda Safety Test Solutions ha presentado dos nuevos equipos capaces de medir las radiaciones generadas en entornos industriales. Estos instrumentos miden la in...
- Analizador de luminancia y col... GL Optic ha desarrollado el GL OPTICAM 4.0 M SC, un dispositivo de medición de luminancia y color con imagen secuencial, para aplicaciones metrológicas exigente...
- Sistema inalámbrico Fluke® CNX... Fluke Corp. presenta el Sistema inalámbrico Fluke® CNX, el primer conjunto de instrumentos de medida que permite conectar de forma inalámbrica varios módulos de...
- Instrumentacion para instalaci... El Greentest FTV100 es un equipo diseñado para cubrir todas las necesidades de un técnico ya sea, instalando, verificando, certificando o realizando mantenimien...
- Gama de puntas de prueba elect... Omron Electronic Components Europe ha ampliado su gama de puntas de prueba para dispositivos semiconductores y comprobación de obleas con la incorporaci&...
- Osciloscopio serie X1000 de Ke... Ayscom presenta los nuevos osciloscopios 1000X de Keysight que incorporan 6 instrumentos en 1:• Osciloscopio desde 50MHz hasta 100MHz (dependiendo del mode...