Equipos de Prueba y Medida

Sensores digitales de temperatura de Atmel que mejoran la fiabilidad del sistema y reducen su coste

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SensoresdigitalesEn el certamen  Embedded World 2011 de Nuremberg ,  Atmel® Corporation ha dado a conocer la primera familia de sensores digitales de temperatura de alta precisión del mercado con los dos registros integrados no volátiles y memoria EEPROM Serial integrada. Esta combinación permite que los parámetros configurados por el usuario se conserven a través de ciclos de potencia para simplificar el diseño del sistema, reducir el código de puesta en marcha del procesador, mejorar la fiabilidad y garantizar un funcionamiento adecuado. La familia AT30TS750 Atmel es ideal para aplicaciones de consumo, industriales, informáticas y médicas.


Los sensores digitales de temperatura tienen una excelente precisión y pueden medir temperaturas en un rango amplio en comparación con otras tecnologías tales como termopares, termistores y dispositivos de resistencia térmica (RTD). Además, los sensores digitales de temperatura pueden controlar directamente otros circuitos en el sistema para descargar los requisitos establecidos en el microcontrolador (MCU). La nueva familia de sensores de temperatura de Atmel integra memoria EEPROM Serial de 2K, 4K y 8Kbit para almacenar los parámetros del sistema y los datos de preferencia de los usuarios. El usuario puede acceder a la EEPROM, que es totalmente funcional y compatible drop-in con el estándar de la industria I2C serial EEPROM.


La familia AT30TS750 de Atmel incluye cinco dispositivos sensores digitales de temperatura de alta precisión, que se basan en el estándar de la industria xx75 que ofrecen varios vendedores. La inclusión de registros no volátiles para almacenar permanentemente los valores de configuración del dispositivo, ofrecen gran flexibilidad a los diseñadores de sistemas. Todos los dispositivos en la familia, miden y monitorizan la temperatura para hacer frente a las exigencias de control térmico de una amplia variedad de aplicaciones.

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